EXAFS-спектроскопия - новый метод структурного анализа
Ведринский Р.В.
В статье описывается, как, обрабатывая тонкую структуру рентгеновских спектров поглощения атомов в веществе, можно исследовать ближнее окружение этих атомов и какие новые возможности изучения атомной структуры твердых тел открываются в связи с этим
Categorie:
Anno:
1996
Lingua:
russian
Pagine:
6
File:
PDF, 118 KB
IPFS:
,
russian, 1996